■一般動作試験


一般動作試験

一般動作試験とは、室温にて我々が普段使う機能や外観について検査することです。機能面として、ハードウェアに関する部分(キーが効く、開閉動作が正常、電源が入る・・・等)は全て検査しています。特に難しい内容ではなく、普通の検査です。この検査をすることで初期不良を無くしているのですが、実際はある程度の割合で初期不良が発生しているのも事実です。


また、携帯電話は外観状態(傷、異物、汚れ・・・等)の判断基準が厳しいので、こういった不良対策も必要になってきます。この中でもやっかいな不良が”傷”です。特に製造ラインを流している間に付いた傷か最初からあった傷か、区別ができない場合が多いからです。そして、OK/NGの判断を検査者が行うので人により判定差(OKをNGと判定したり、NGをOKと判定)もあるからです。


傷のOK/NGの不良レベル判定は不良サンプル品を用いて検査者教育を行いますが、製造ラインでの検査は時間が非常に短いので100%正確には出来ないことも事実です。検査時間を延長するには人件費が増しますので、品質とのトレードオフになります。本来は、人間ではなく、画像検査装置のうな機械が自動判断できれば全く問題ないのですがね。


初期不良が発生する理由

1、ヒューマンエラー


検査した”つもり”になっており、不良を見逃した。
ヒューマンエラーは、真因を突き止めることが難しいので、対策も大変です。不良が発見されてからどこの工程の人が見逃したのか判明しても、既にある程度の時間が経過しているので検査者にはその時の記憶がありません。よって、直ぐにできる対策と言えば、不良を見逃しても次工程以降で見つけれるように検査工程を追加しるしかありません。


2、再現性が悪い不良


100%の再現性が無い不良です。例えば、2回に1回しか不良が発生しないとか。こうなると直ぐに出来る対策は、検査工程でのチェック回数を増やすしかありません。でもこれは検査者に負担がかかってきますので、早く真因を突き止めて対策を施す必要があります。それまでは、検査者に頑張ってもらいます。。。